用双两面角反射器检测进气道RAM特性的试验研究 |
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引用本文: | 程大光.用双两面角反射器检测进气道RAM特性的试验研究[J].飞机设计,2001(1):20-24. |
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作者姓名: | 程大光 |
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作者单位: | 沈阳飞机设计研究所,沈阳,110035 |
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摘 要: | 用双两面角反射器检测进气道减缩RCS的RAM不同于弓形法,它可较为真实的检测出照射到进气道中各种掠入射状态下的吸波特性,克服了用弓形法检测RAM的不足。本文除了用该方法进行了2种RAM的试验研究外,还进行了与双两面角尺寸相同金属平板涂和不涂RAM的对比试验。结果表明:用双两面角检测RAM方法,测试数据可信、误差小、精度高、费用少、可以推广工程应用。
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关 键 词: | 减缩RCS 双两面角 吸波材料(RAM) |
修稿时间: | 2000年9月28日 |
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