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半导体器件的老化试验
引用本文:贺梅.半导体器件的老化试验[J].中国航天,1988(9).
作者姓名:贺梅
摘    要:本文作者是美国加州Aehr试验设备公司的产品经理。他认为,早期剔除易出故障的元器件,不仅可以提高电子设备的可靠性,而且在经济上是合算的,但要使用恰当的筛选设备。文中介绍了用计算机进行元器件老化试验的好处。

关 键 词:半导体器件  人工老化  可靠性
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