首页
|
本学科首页
官方微博
|
高级检索
全部专业
航空
航空、航天技术的研究与探索
航天(宇宙航行)
学报及综合类
按
中文标题
英文标题
中文关键词
英文关键词
中文摘要
英文摘要
作者中文名
作者英文名
单位中文名
单位英文名
基金中文名
基金英文名
杂志中文名
杂志英文名
栏目英文名
栏目英文名
DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
检索
半导体器件的老化试验
引用本文:
贺梅.半导体器件的老化试验[J].中国航天,1988(9).
作者姓名:
贺梅
摘 要:
本文作者是美国加州Aehr试验设备公司的产品经理。他认为,早期剔除易出故障的元器件,不仅可以提高电子设备的可靠性,而且在经济上是合算的,但要使用恰当的筛选设备。文中介绍了用计算机进行元器件老化试验的好处。
关 键 词:
半导体器件
人工老化
可靠性
本文献已被
CNKI
等数据库收录!
设为首页
|
免责声明
|
关于勤云
|
加入收藏
Copyright
©
北京勤云科技发展有限公司
京ICP备09084417号