修正双旋转切型的 X 射线测角法

对于 RT,FC、IT 和 SC 等切型来说,所做的第一次旋转和通常情况稍有差别。经第一次稍有差别的旋转后,就得到平行于 X′轴的晶面。对这些晶面和切型作出的四分之一圆图类似于单转角切型的半圆图。为了得到类似于原来切型的温度频率关系,就必须对第二次旋转加以适当的校正。在作出包含 Z 和 X′的截面时,仍可用类似于单转角切型作出包含 Z 和 X 截面时的 X 射线测角法。这些修正的切型所具有的特性,大致和非修正的切型相同。这些切型是比较容易做到的。