|
|||||
|
|
| 用光纤半圆阵列测量准二维工件表面粗糙度参数的仿真研究 | |
| 引用本文： | 曹麟祥,王建忠.用光纤半圆阵列测量准二维工件表面粗糙度参数的仿真研究[J].宇航计测技术,1990(6):10-12. |
| 作者姓名： | 曹麟祥 王建忠 |
| 作者单位： | 西北工业大学 副教授(曹麟祥)，西北工业大学 硕士(王建忠) |
| 基金项目： | 航空科学研究基金资助项目 |
| 摘 要： | 提出了一种反散射计算的简单、快速方法,用于用光纤半圆阵列的光散射技术测量准二维工件表面的粗糙度参数。这些参数包括高度特性参数 R_a、间距特性参数λ_a 和混合参数△_a。我们的研究证明了上述测量方法的正确性。因而,这种测量方法可用于测量工件表面粗糙度参数仪器的设计。 |
| 关 键 词： | 光纤半圆阵列 反散射计算 表面粗糙度 二维工件 仿真技术 |
A simulation investigation for measuring pseudo-2D surface roughness parameters using optical fiber semicircular array |
|
| Cao Linxiang Wang Jianzhong.A simulation investigation for measuring pseudo-2D surface roughness parameters using optical fiber semicircular array[J].Journal of Astronautic Metrology and Measurement,1990(6):10-12. | |
| Authors: | Cao Linxiang Wang Jianzhong |
| Institution: | Cao Linxiang Wang Jianzhong |
| Abstract: | |
| Keywords: | Optical fiber semicircular array Inverse scattering calculation Surface roughness Two dimension workpiece Simulation technique |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |