首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

三模冗余对SRAM型FPGA寄存器上电状态的影响分析
作者姓名:马小霞  李园  贾露娟  郭睿
作者单位:(兰州空间技术物理研究所,兰州 730000)
基金项目:国家自然科学基金(编号:61971209)
摘    要:SRAM型FPGA容易受到空间辐射环境引起的单粒子翻转效应影响,造成软件在轨故障进而影响任务成败,因此在空间应用时普遍采用三模冗余技术进行设计加固来提高软件可靠性。使用Xilinx TMRTool工具实现SRAM型FPGA的三模冗余是目前流行的三模冗余实现方式,该方式无需额外编写代码,简化了设计师的工作。分析了Xilinx TMRTool对软件网表文件的改变流程和机理,对比了三模冗余处理前后FPGA寄存器的不同布局布线结果,分析了三模冗余工具对寄存器置位和复位的影响,给出了以SRAM型FPGA为核心控制器的产品设计建议。

关 键 词:FPGA  半锁结构  TMRTool  三模冗余  寄存器

Analysis of XTMR processing results of register power-on state based SRAM FPGA
Authors:MA Xiaoxi  LI Yuan  JIA Lujuan  GUO Rui
Institution:(Physical Institute of Lanzhou Space Technology, Lanzhou 730000, China)
Abstract:
Keywords:field-programmable gate array  half-latches  TMRTool  triple module redundancy  register
点击此处可从《》浏览原始摘要信息
点击此处可从《》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号