在IEEE716C/ATLAS环境下的数字测试是月亮的黑面码? |
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引用本文: | 盂庆学,刘东升.在IEEE716C/ATLAS环境下的数字测试是月亮的黑面码?[J].飞机设计,2000(3):45-58. |
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作者姓名: | 盂庆学 刘东升 |
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摘 要: | 本文将阐明IEEE716C/ATLAS自动测试环境下数字测试能力。本文描述了关于716C/ATLAS适合在不同级别的组件,特别是重点在LRU/WRA级别上进行数字测试的问题,在项目涉及把LASAR数据二次处理进一个现代的C/ATLAS环境中时,作者描述了这些问题。本文对自动测试界说明了使用C/ATLAS执行数字测试是可能的。说明了在与传统的数字测试环境比较时,IEEE标准方案执行得很好,被描述的优点(如可移植性,重宿主能力)和缺点(如性能)可使最终用户对IEEE的标准做出有见地的决策。本文所论述的工作是基于实际经验的,是ATE界的现在趋势以及在这个领域频繁涉及的问题。
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关 键 词: | IEEE标准 自动测试设备 IEEE716C/ATLAS 数字测试 |
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