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电离辐照诱发面阵电荷耦合器暗信号增大试验
引用本文:王祖军,罗通顶,杨少华,刘敏波,盛江坤. 电离辐照诱发面阵电荷耦合器暗信号增大试验[J]. 中国空间科学技术, 2014, 34(4)
作者姓名:王祖军  罗通顶  杨少华  刘敏波  盛江坤
作者单位:西北核技术研究所强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室,西安,710024
基金项目:国家自然科学基金,国家重点试验室基金
摘    要:针对电荷耦合器件(CCD)在空间轨道环境中应用时易受到辐射损伤的影响,对面阵CCD的电离辐照损伤效应问题进行了试验研究.首先,通过开展面阵CCD60 Co γ射线电离辐照效应试验,在暗场条件下测试了面阵CCD辐照后输出信号随积分时间的变化,并拟合计算出暗信号斜率.然后,对比分析了不同偏置条件下辐照后暗信号退化的试验规律;分析了不同偏置条件下辐照后暗信号的退火恢复情况;分析了不同积分时间、不同总剂量下的暗信号不均匀性的变化规律.最后,阐述了电离辐照损伤诱发面阵CCD暗信号增大的物理机制.结果表明:面阵CCD对电离辐照损伤很敏感,在进行航天器成像系统设计时,要充分考虑CCD受电离辐照损伤带来的影响.

关 键 词:面阵电荷耦合器件  电离辐照  暗信号  退火  空间轨道环境

Experiment of Ionizing Radiation Induced Array Charge Coupled Devices Dark Signal Increase
WANG Zujun,LUO Tongding,YANG Shaohua,LIU Minbo,SHENG Jiangkun. Experiment of Ionizing Radiation Induced Array Charge Coupled Devices Dark Signal Increase[J]. Chinese Space Science and Technology, 2014, 34(4)
Authors:WANG Zujun  LUO Tongding  YANG Shaohua  LIU Minbo  SHENG Jiangkun
Abstract:
Keywords:Array charge coupled device  Ionizing radiation  Dark signal  Anneal  Space orbit environment
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