电子整机加速贮存试验及寿命评估方法研究 |
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作者姓名: | 刘佩风 王毅飞 白明明 马晓东 王冀宁 |
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作者单位: | 北京强度环境研究所北京市振动测试设备工程技术研究中心;空军驻航天一院军事代表办公室;北京遥测技术研究所;中国运载火箭技术研究院; |
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摘 要: | 以某典型电子整机为例,通过步进应力试验方法对该电子整机的两批产品进行了四个不同应力量级的高温加速贮存试验。结果表明:高温老化过程中,随着温度应力量级的不断提高,电子整机的性能测试数据未发生明显退化,而是在最高应力量级的某一阶段出现突变失效现象。本文分析了产品加速贮存试验中的故障机理,并根据试验结果推导得到了该电子整机的高温贮存加速因子。
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