粉末标样的校正 |
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引用本文: | 赵文山.粉末标样的校正[J].航天制造技术,1989(6):50-53. |
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作者姓名: | 赵文山 |
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作者单位: | 211厂 |
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摘 要: | 配制粉末标样常用纯金属或来样作为基体物质,其本身含有称为污染量的待测杂质。背景和污染对工作曲线的影响是同向、双重、叠加的。必须正确确定背景的测光位置,以使其测量值能真正代表叠加在元素线上背景之实际影响,将背景和污染量严格区分开。背景的扣除只能强度相减而不能黑度相诚,扣除方法的选用要视具体任务而定。标样配制和污染量的求出是能否获得高质量标样的关键环节。
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关 键 词: | 发射光谱分析 金属分析 |
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