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粉末标样的校正
引用本文:赵文山.粉末标样的校正[J].航天制造技术,1989(6):50-53.
作者姓名:赵文山
作者单位:211厂
摘    要:配制粉末标样常用纯金属或来样作为基体物质,其本身含有称为污染量的待测杂质。背景和污染对工作曲线的影响是同向、双重、叠加的。必须正确确定背景的测光位置,以使其测量值能真正代表叠加在元素线上背景之实际影响,将背景和污染量严格区分开。背景的扣除只能强度相减而不能黑度相诚,扣除方法的选用要视具体任务而定。标样配制和污染量的求出是能否获得高质量标样的关键环节。

关 键 词:发射光谱分析  金属分析
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