基于NADCAP技术降低荧光渗透检测过程中的人为差错研究 |
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引用本文: | 李阔,谭武菲,黄伟栋,李玫,孙莎莎.基于NADCAP技术降低荧光渗透检测过程中的人为差错研究[J].航空维修与工程,2023(12):115-117. |
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作者姓名: | 李阔 谭武菲 黄伟栋 李玫 孙莎莎 |
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作者单位: | 1. 中国人民解放军93131部队;2. 国营四达机械制造公司 |
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摘 要: | 通过在荧光渗透检测领域导入NADCAP技术应用来降低该过程中的人为差错研究,探讨推进的重点和难点,提出运行步骤及持续改进方向,将荧光渗透检测过程中存在的易错点从技术层面进行防人为差错设计,并从顶层策划和过程控制方面有针对性地制定缓解方案。通过应用,可以学习和掌握先进的管理理念,为有效改进质量控制手段提供参考。
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关 键 词: | 荧光渗透检测 NADCAP 人为差错 持续改进 |
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