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| 小行星表面取样技术分析 | |
| 引用本文： | 朱恩涌,孙国江,果琳丽.小行星表面取样技术分析[J].中国航天,2012(2):32-35. |
| 作者姓名： | 朱恩涌 孙国江 果琳丽 |
| 摘 要： | 近年来,随着深空探测技术的发展,小行星探测逐渐成为深空探测的热点。小行星探测也从早期对表面进行简单的拍照观测,发展为着陆探测和物质取样等。1996年2月美国发射的"近地小行星交会"(NEAR)探测器是第一个专用近地小行星探测器,也是第一个在小行星上降落的 |
| 关 键 词： | 近地小行星 探测器 行星探测 取样装置 取样器 取样系统 表面环 深空探测 太阳系 中国航天 |
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