DPA功不可没——DPA发现批次缺陷，3100只器件报废期刊界 All Journals 搜尽天下杂志传播学术成果专业期刊搜索期刊信息化学术搜索

按检索

DPA功不可没——DPA发现批次缺陷，3100只器件报废

引用本文：	张素娟,周永宁,等.DPA功不可没——DPA发现批次缺陷，3100只器件报废[J].质量与可靠性,2002(1):21-21.

作者姓名：	张素娟周永宁

摘要：
关键词：	电子元器件质量检验质量管理 DPA试验
本文献已被维普等数据库收录！