怎样消除半导体器件的早期故障 |
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引用本文: | 潘淦卿.怎样消除半导体器件的早期故障[J].航空标准化与质量,1981(4). |
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作者姓名: | 潘淦卿 |
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摘 要: | 一个理想的半导体器件,若处置得当,且按照规范使用,它永远不会损坏。因为半导体器件完全靠电子工作,不存在会磨损的活动部件;而且在正常使用期间,不消耗任何半导体材料。但是,实际上所有的半导体器件均含有最终能导致故障的制造缺陷。其中多数只有轻微的缺陷,它们有较长的使用期(可能超过50年)。但是,交给使用者的常用半导休器件中,约有1%存在着导致早期失效的缺陷。这样的半导体器件,通常在使用的第一年内就失效。它是造成电路早期失灵及电子设备损坏的主要原因。好在有一种方法,可把它们在装机使用之前就检测出来,这就是应力试验法。
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