| 利用电离层参量推断电子浓度剖面的一种简单方法 |
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| 引用本文： | 陈艳红,万卫星,刘立波,毛田.利用电离层参量推断电子浓度剖面的一种简单方法[J].空间科学学报,2004,24(3):194-202. |
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| 作者姓名： | 陈艳红 万卫星 刘立波 毛田 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院空间科学与应用研究中心,北京,100080;中国科学院地质与地球物理研究所
2. 中国科学院地质与地球物理研究所 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(49974039,40134020),国家重点基础研究规划项目(G2000078407)共同资助 |
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| 摘 要： | 由武汉电离层观象台实测的电离层F2层临界频率foF2、3000km传播因子M(3000)F2的月中值资料，统计分析分别得出它们的经验模式，模式结果能够较好地再现这些参数的观测值．利用foF2、M(3000)F2以及TEC的经验模式，获得F2层的峰值参数，输入到电子浓度的Chapman α函数中，推断出了电子浓度的高度剖面；将剖面在一定的高度范围内积分，得到该区域内的电子含量并与实际观测TEC相比较，结果表明，在100-1000km高度范围内积分的电子含量与观测结果能够较好的符合．
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| 关 键 词： | 电离层参量 电子浓度剖面 临界频率 经验模式 |
| 修稿时间： | 2003年5月20日 |
A SIMPLE METHOD OF MODELING ELECTRON DENSITY PROFILE USING IONOSPHERIC PARAMETERS |
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| CHEN Yanhong.A SIMPLE METHOD OF MODELING ELECTRON DENSITY PROFILE USING IONOSPHERIC PARAMETERS[J].Chinese Journal of Space Science,2004,24(3):194-202. |
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| Authors: | CHEN Yanhong |
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| Institution: | CHEN Yanhong~ |
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| Keywords: | Ionosphere Electron density profile Statistical and empirical model |
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