| 基于IEEE1149．1标准的通用测试机的设计与实现 |
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| 引用本文： | 钟波,孟晓风.基于IEEE1149．1标准的通用测试机的设计与实现[J].航空电子技术,2006,37(2):23-26. |
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| 作者姓名： | 钟波 孟晓风 |
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| 作者单位： | 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院,北京,100083 |
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| 摘 要： | 针对板级或系统级电路的测试问题,本文提出了一种基于IEEE1149．1标准的通用测试机的设计方案,从而实现了对被测电路的在线和离线测试。此外,由于DSP、FPGA等嵌入式技术的使用,使整个系统具有体积小、功耗低、通用性好和便于嵌入到被测电路板等特点。
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| 关 键 词： | 测试机 通用性 在线测试 离线测试 边界扫描 机内测试 |
| 文章编号： | 1006-141X(2006)02-0023-04 |
| 修稿时间： | 2006年3月27日 |
Design and Realization of General Tester Based on IEEE1149.1 Standard |
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| ZHONG Bo,MENG Xiao-feng.Design and Realization of General Tester Based on IEEE1149.1 Standard[J].Avionics Technology,2006,37(2):23-26. |
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| Authors: | ZHONG Bo MENG Xiao-feng |
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| Abstract: | For solving the test problems of circuits on board-stage or system-stage, the design scheme of general tester based on IEEE 1149.1 standard is presented in this paper. The tester can realize circuits' on-line and off-line tests. In addition, by using an embedded technology, such as DSP, FPGA etc, the tester will have the features of small-size, low-cost, general-purpose and easy-embedment. |
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| Keywords: | Tester general-purpose on-line test off-line test boundary-scan BIT |
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