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掺铒光纤光源辐照致有源区损耗研究及其抗辐照设计
引用本文:朱蕊蘋,魏伟,索鑫鑫.掺铒光纤光源辐照致有源区损耗研究及其抗辐照设计[J].导航与控制,2023(4):51-58.
作者姓名:朱蕊蘋  魏伟  索鑫鑫
作者单位:2. 北京航天时代光电科技有限公司
基金项目:国家自然科学基金(编号:61827820);
摘    要:在辐照环境下,掺铒光纤光源谱宽、平均波长稳定性及功率稳定性与光纤陀螺精度直接相关。为研究高性能、抗辐照掺铒光纤光源,研究了掺铒光纤光源辐射致有源区损耗特性。利用Er3+的本征荧光光谱作为光源原始输出光谱,结合“多重光褪色”和“980nm泵浦功率闭环控制技术”,提出了一种高性能、抗辐照掺铒光子晶体光纤光源设计方案。结果表明,在50krad照射剂量下,光源谱宽大于40nm,平均波长稳定性约5.4×10-7/krad,输出功率衰减小于0.1dB。该宽谱光源在辐射环境下具有良好的综合性能,特别适用于战略级高精度干涉式光纤陀螺。

关 键 词:有源区损耗特性  本征荧光光谱  掺铒光子晶体光纤  平均波长稳定性  输出功率损耗
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