| 某型晶闸管恒加寿命试验中数据处理的Bayes方法 |
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| 引用本文： | 严拴航,师义民,田艳芳,孙伟. 某型晶闸管恒加寿命试验中数据处理的Bayes方法[J]. 航天控制, 2007, 25(1): 75-79 |
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| 作者姓名： | 严拴航 师义民 田艳芳 孙伟 |
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| 作者单位： | 西北工业大学,西安,710072;中国第一飞机设计研究院,西安,710089;西北工业大学,西安,710072;中国第一飞机设计研究院,西安,710089;西北工业大学,西安,710072;中国第一飞机设计研究院,西安,710089;西北工业大学,西安,710072;中国第一飞机设计研究院,西安,710089 |
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| 摘 要： | 对寿命服从Weibull分布的某型晶闸管恒定应力加速寿命试验中的零失效数据,运用经典的统计方法和Bayes方法进行了处理,分别给出了在正常应力下失效概率的极大似然估计和多层Bayes估计,对2种估计结果与现场试验数据下所得估计结果的比较表明,Bayes估计的绝对误差为5.89×10-5,它小于极大似然估计的绝对误差2.438×10-3。随机模拟表明本文所给方法正确有效。
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| 关 键 词： | 恒应力加速寿命试验 失效概率 极大似然方法 Bayes方法 |
| 文章编号： | 1006-3242(2007)01-0075-05 |
| 修稿时间： | 2006-03-23 |
Bayesian Data Process of Constant Stress Accelerated Life Test for Transistor Switch |
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| Yan Shuanhang,Shi Yimin,Tian Yanfang,Sun Wei. Bayesian Data Process of Constant Stress Accelerated Life Test for Transistor Switch[J]. Aerospace Control, 2007, 25(1): 75-79 |
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| Authors: | Yan Shuanhang Shi Yimin Tian Yanfang Sun Wei |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Constant stress accelerated life test Failure probability Maximum likelihood method Bayes method |
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