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某型晶闸管恒加寿命试验中数据处理的Bayes方法
引用本文:严拴航,师义民,田艳芳,孙伟.某型晶闸管恒加寿命试验中数据处理的Bayes方法[J].航天控制,2007,25(1):75-79.
作者姓名:严拴航  师义民  田艳芳  孙伟
作者单位:西北工业大学,西安,710072;中国第一飞机设计研究院,西安,710089;西北工业大学,西安,710072;中国第一飞机设计研究院,西安,710089;西北工业大学,西安,710072;中国第一飞机设计研究院,西安,710089;西北工业大学,西安,710072;中国第一飞机设计研究院,西安,710089
摘    要:对寿命服从Weibull分布的某型晶闸管恒定应力加速寿命试验中的零失效数据,运用经典的统计方法和Bayes方法进行了处理,分别给出了在正常应力下失效概率的极大似然估计和多层Bayes估计,对2种估计结果与现场试验数据下所得估计结果的比较表明,Bayes估计的绝对误差为5.89×10-5,它小于极大似然估计的绝对误差2.438×10-3。随机模拟表明本文所给方法正确有效。

关 键 词:恒应力加速寿命试验  失效概率  极大似然方法  Bayes方法
文章编号:1006-3242(2007)01-0075-05
修稿时间:2006年3月23日

Bayesian Data Process of Constant Stress Accelerated Life Test for Transistor Switch
Yan Shuanhang,Shi Yimin,Tian Yanfang,Sun Wei.Bayesian Data Process of Constant Stress Accelerated Life Test for Transistor Switch[J].Aerospace Control,2007,25(1):75-79.
Authors:Yan Shuanhang  Shi Yimin  Tian Yanfang  Sun Wei
Abstract:
Keywords:Constant stress accelerated life test  Failure probability  Maximum likelihood method  Bayes method
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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