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| 计测文摘集萃 | |
| 摘 要： | 891076 用于精密计量的新型激光测最系统〔刊,英〕/Sommargren,G.E.∥Proc.Eng.1987,9(4)。179～184 近二十年来,基于光学外差干涉测量原理的激光测量系统已成为用于精密计量的一种有效工具。描述一种能满足目前及未来需求的新型激光头、连接电路和干涉仪。该系统可测线位移、旋转,直线度、平面度、垂直度和平行度及空气折射率的变化等。图10参3(高振) 891079高准确的x一射线计量〔刊,英〕/Sey-fried,P。…∥Proc.Eng.1988,10(1)。35～42 |
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