基于增量式光栅编码器的高精度角位移测试方法

针对增量式光栅编码器,给出一种四倍频细分结合A/D转换计算反正切的方法,测量编码器转过的角位移。经验证,该方法能有效提高增量式光栅编码器的分辨率,得到较高的角位移测量精度。