|
|||||
|
|
| 基于CPLD设计实现逻辑器件的芯片级检测 | |
| 引用本文： | 张玲明,俞凯.基于CPLD设计实现逻辑器件的芯片级检测[J].航空维修与工程,2017(10). |
| 作者姓名： | 张玲明 俞凯 |
| 作者单位： | 江苏金陵机械制造总厂 |
| 摘 要： | 基于CPLD复杂可编程逻辑器件为核心的硬件电路,对某型计算机中所使用的俄制588系列专用大规模集成电路芯片进行性能和逻辑功能测试。该方法能够准确检测芯片故障,大大提高了修理效率。本文论述了利用CPLD复杂可编程逻辑器件设计的基本电路结构和实现原理,并与传统的故障检测方法进行对比,突显其在芯片级检测中的优势。 |
| 关 键 词： | CPLD 并行计算机 芯片级测试技术 ALU 总线接口技术 |
Chip Level Detection of Logic Devices Based on CPLD Design |
|
| Abstract: | |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ | |