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2012微电子与元器件计量测试研讨会在京召开

摘要：	2012年12月20日,由工业和信息化部电子工业标准化研究院、中国半导体协会、国防科技工业微电子元器件一级计量站主办的"2012微电子与元器件计量测试研讨会"在北京顺利召开。国家质监局计量司宋伟副司长、陈红处长,工业和信息化部科技司韩俊副司长、技术基础处常利民处长,北京市国防
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