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氢脆快速测试仪及其检测技术的研究
引用本文:侯培文.氢脆快速测试仪及其检测技术的研究[J].航天制造技术,1992(4):32-36.
作者姓名:侯培文
作者单位:首都机械厂
摘    要:OC—Ⅱ型氢脆快速测试仪是新研制的动态弯曲氢脆测试仪,测试时间仅几分钟到几十分钟,其特点快速、简便、经济。测试仪研制过程中,运用了声发射监控和断口分析的方法,深入地研究了试样裂纹的发生、扩展规律和断口的形成过程。研究证明:测试仪的推进速度对氢脆程度影响显著,当推进速度选用3mm/min时与静态弯曲一样,试样充分反映了氢致延迟断裂的特点。

关 键 词:氢脆检测  ~+氢致延迟断裂  声发射  断口分析
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
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