| 单光束直入射云纹干涉计量 --云纹相机和云纹显微镜 |
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| 引用本文： | 王凤翔,李仁增,傅艳军,李禾,严超华.单光束直入射云纹干涉计量 --云纹相机和云纹显微镜[J].南昌航空工业学院学报,2002,16(3):13-20. |
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| 作者姓名： | 王凤翔 李仁增 傅艳军 李禾 严超华 |
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| 作者单位： | 南昌航空工业学院实验力学研究室 江西南昌330034
(王凤翔，李仁增，傅艳军，李禾)，南昌航空工业学院实验力学研究室 江西南昌330034(严超华) |
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| 摘 要： | 本文用傅氏光学原理分析了光栅在斜入射与直入射之间的关系，提出了直入射云纹光路及其干涉原理。此光路除了继承斜入射波前干涉原理和有相同灵敏度外，还具有结构简化、紧凑，集光源到CCD成像为一体的特点，从而设计了云纹相机（f=300-2400线／毫米）和云纹显微镜（f=12000线／毫米或灵敏度＝83.3纳米／线），实现了云纹测量仪器化，至此云纹实验勿需再采用分离元件在实验室的全息平台上进行，而可用于现场。本文最后分析了光栅恰如－精密度尺，用于变形测量，但度尺与被测物不应为同一量级，因变形高频信号将被转换为衰逝波被光栅所阻挡，根据目前各相关技术发展的详实资料及光测力学的需求，提出可行的纳米级光栅和超紫外云纹，这将是新世纪研究微观断裂力学的一个方向。
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| 关 键 词： | 云纹干涉 计量 云纹相机 云纹显微镜 入射方向 |
| 文章编号： | 1001-4926(2002)03-0013-08 |
| 修稿时间： | 2002年5月21日 |
Moiré interferometry with single normal incident beam--Moiré camera & moiré microscope |
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| WANG Feng Xiang,LI Ren-Zeng,FU Yan Jun,LI He,YAN Chao Hua.Moiré interferometry with single normal incident beam--Moiré camera & moiré microscope[J].Journal of Nanchang Institute of Aeronautical Technology(Natural Science Edition),2002,16(3):13-20. |
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| Authors: | WANG Feng Xiang LI Ren-Zeng FU Yan Jun LI He YAN Chao Hua |
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