寿命的可靠性综论(二)——寿命及百分寿命的统计方法 |
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引用本文: | 何国伟,角淑媛.寿命的可靠性综论(二)——寿命及百分寿命的统计方法[J].质量与可靠性,2011(2). |
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作者姓名: | 何国伟 角淑媛 |
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作者单位: | 原航天工业总公司质量司;中国航天标准化与产品保证研究院; |
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摘 要: | 指出寿命有两种:偶然故障期的寿命、耗损故障期的寿命,前者的重要特征量为MTBF及故障率λ(t),后者的重要特征量是百分寿命(有时加上MTTF)。长寿命、高可靠的长寿命要求是:偶然故障期的故障率低、平均寿命大,并且耗损故障期的百分寿命长(或加上长的MTTF)。对后者,当前重视不够。本文介绍了正态分布(两参数对数正态分布只要取对数即成为正态分布)、两参数Weibull分布完全子样及不完全子样情况下百分寿命估计的统计方法。
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关 键 词: | 寿命 MTBF MTTF λ(t) 百分寿命 正态分布 两参数Weibull分布 |
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