微处理控制的智能测量系统

自动测量系统由智能仪表、标准总线接口及微处理器系统构成。其研制周期短、通用性强、稳定可靠，适用于系统工程科研领域的种类测试。讨论系统特点、结构、标准总线接口、智能仪表选择以及抗干扰和软件设计等。