| GE推出适用于电子制造业的高性能X射线检测系统——phoenix xlaminer |
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| 引用本文： | GE检测控制技术.GE推出适用于电子制造业的高性能X射线检测系统——phoenix xlaminer[J].航空制造技术,2011(11). |
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| 作者姓名： | GE检测控制技术 |
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| 作者单位： | GE检测控制技术; |
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| 摘 要： | 2011年5月12日,GE检测控制技术宣布最新推出的新型phoenix x|aminer是一个微焦点X射线检测系统,有5个轴,主要用于电子元件分装的质量控制,并适用于焊点的可靠精确检测。
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| 关 键 词： | 推出 放大率 缺陷检测 电子元件 检测系统 质量控制 控制技术 适用于 射线 微焦点 |
Phoenix Xlaminer of GE for Electronics Manufacturing |
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| GE Measurement & Control Solutions.Phoenix Xlaminer of GE for Electronics Manufacturing[J].Aeronautical Manufacturing Technology,2011(11). |
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| Authors: | GE Measurement & Control Solutions |
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| Keywords: | |
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