噪声引起的数字电路故障模式

本研究的目的是通过实验获得基本数据,用于设计由数字电路组成的正/误系统。为了实现更一般化的高可靠数字电路,需要研究与电源噪声有关的集成电路的故障模式的差异。当直流电流的初级有噪声时,把寄存器的输出加到数/模变换器的输入,在示波器上作者证实了寄存器的故障模式。