| 电子设备可靠性预计参数综合分析方法研究 |
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| 引用本文： | 任羿,曾声奎,李晓阳. 电子设备可靠性预计参数综合分析方法研究[J]. 宇航学报, 2003, 24(3): 318-321 |
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| 作者姓名： | 任羿 曾声奎 李晓阳 |
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| 作者单位： | 北京航空航天大学,可靠性工程研究所,北京,100083 |
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| 摘 要： | 如何调整元器件的参数以满足可靠性要求并达到最佳的效费比?传统的方法是绘制故障率随单个预计参数变化的曲线，然后根据变化的趋势分别进行调整，但该方法很难直观地反映出多参数对故障率的综合影响，为了达到优化的目的，设计人员需要根据经验反复地调整各类参数。为此，本文结合电子产品可靠性预计软件，给出了直观分析各参数对电子设备可靠性预计结果综合影响的方法。
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| 关 键 词： | 可靠性预计 参数 故障率曲面 故障率等值线 综合分析 |
| 文章编号： | 1000-1328(2003)03-0318-04 |
| 修稿时间： | 2002-09-06 |
Integrated analysis methods for reliability prediction parameters of electronic device |
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| REN Yi,ZENG Sheng-kui,LI Xiao-yang. Integrated analysis methods for reliability prediction parameters of electronic device[J]. Journal of Astronautics, 2003, 24(3): 318-321 |
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| Authors: | REN Yi ZENG Sheng-kui LI Xiao-yang |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Reliability prediction Parameter Fault rate surface Fault rate contour line Integrated analysis |
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