| 电子系统的电磁脉冲效应及防护 |
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| 引用本文： | 侯民胜,问建.电子系统的电磁脉冲效应及防护[J].航天电子对抗,2007,23(3):15-17,24. |
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| 作者姓名： | 侯民胜 问建 |
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| 作者单位： | 北京航空工程技术研究中心,北京,100076 |
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| 摘 要： | 电磁脉冲对电子系统具有很强的干扰和破坏作用.为研究电磁脉冲对电子系统的影响,进行了静电放电电磁脉冲对单片机系统的辐照效应实验.实验表明,单片机系统在静电放电电磁脉冲作用下,会出现多种故障现象.在效应实验基础上,研究了单片机加固技术.
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| 关 键 词： | 电磁脉冲 效应 电子系统 单片机 防护 电子系统 电磁 脉冲效应 system electronic protection effects pulse 加固技术 实验基础 故障现象 脉冲作用 辐照效应 单片机 静电放电 影响 研究 破坏作用 干扰 脉冲对 |
| 修稿时间： | 2006年10月10 |
Electromagnetic pulse effects and protection of electronic system |
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| Hou Minsheng,Wen Jian.Electromagnetic pulse effects and protection of electronic system[J].Aerospace Electronic Warfare,2007,23(3):15-17,24. |
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| Authors: | Hou Minsheng Wen Jian |
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| Abstract: | Electromagnetic pulse(EMP) can destroy and interfere the electronic system badly.In order to study the effects of EMP to electronic system,the irradiation experiments of electrostatic discharge electromagnetic pulse(ESD EMP) to the single chip microcomputer(SCM) system are made.The experiments show that a lot of failures would occur when the SCM system is irradiated by ESD EMP.Based on the experiments,the hardening technology is studied. |
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| Keywords: | EMP effect electronic system SCM protection |
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