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共焦检测型扫描光学系统
引用本文:周菊芳.共焦检测型扫描光学系统[J].航空精密制造技术,1993(6).
作者姓名:周菊芳
摘    要:介绍一种用于亚微米尺寸测量的混合型激光扫描光学系统。该扫描光学系统是将具有不同偏转角度特性、向同一方向扫描的AOD(声光式偏转器)和GM(电控反射镜)两个扫描元件配置在同一光路中。当驱动一个扫描元件时,另一个扫描元件停止动作,两者动作是互补的。

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