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| 平面近场测试中误差的分析 | |
| 引用本文： | 陈玉林,李辉煌.平面近场测试中误差的分析[J].航天电子对抗,2017,33(4). |
| 作者姓名： | 陈玉林 李辉煌 |
| 作者单位： | 孔径阵列与空间探测安徽省重点实验室,安徽 合肥,230088 |
| 摘 要： | 首先介绍了暗室中主要的误差项,然后通过实际测试的方式,分析了其中四项误差对超低副瓣天线-50dB副瓣的不确定度.结果对超低副瓣天线副瓣的误差分析有一定的参考意义,有助于天线设计师了解超低副瓣天线测试中误差项对副瓣的影响量级. |
| 关 键 词： | 平面近场测试 误差分析 超低副瓣天线 |
Analysis of errors in PNF measurements |
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| Chen Yulin,Li Huihuang.Analysis of errors in PNF measurements[J].Aerospace Electronic Warfare,2017,33(4). | |
| Authors: | Chen Yulin Li Huihuang |
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