我国知识产权保护水平的测度及其对技术进步率的影响——一个基于DEA方法的实证检验 |
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引用本文: | 冯湘.我国知识产权保护水平的测度及其对技术进步率的影响——一个基于DEA方法的实证检验[J].桂林航天工业高等专科学校学报,2014(4):375-380. |
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作者姓名: | 冯湘 |
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作者单位: | 上海对外经贸大学 国际经贸学院 上海 201620 |
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摘 要: | 论文利用我国近几年的省份数据,测算了我国知识产权保护的实际水平,然后用DEA方法得到我国各省的全要素生产率并分解出其中技术进步的部分,再将二者联系起来,考察各省知识产权保护水平对技术进步率的影响。通过实证检验得到,知识产权保护水平与技术进步存在倒U型关系,就目前而言,提升我国的知识产权保护水平,有利于技术进步。但是当知识产权保护强度提升到一定水平后,会造成研发成本的上升,对技术进步产生反向的阻碍作用。
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关 键 词: | 知识产权保护水平 G-P方法 技术进步率 DEA方法 |
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