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双极IC电浪涌损伤诊断技术
作者姓名:王宏全
作者单位:航天总公司半导体器件失效分析中心
摘    要:以进口双极SN55189J电路和国产双极54S00电路为典型示例,系统介绍集成电路电浪涌损伤的诊断技术和分析技术,说明了如果IC电路出现电浪涌损伤现象,应从电路设计、制造、使用三方面全面地查找原因,采用先进技术和手段准确地诊断出电浪涌产生的根源、途径,从而采取有效措施彻底消除电浪涌的损伤。

关 键 词:集成电路  电浪涌损伤  诊断技术
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