首页
|
本学科首页
官方微博
|
高级检索
全部学科
医药、卫生
生物科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
农业科学
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
历史、地理
语言、文字
文学
艺术
文化、科学、教育、体育
马列毛邓
全部专业
中文标题
英文标题
中文关键词
英文关键词
中文摘要
英文摘要
作者中文名
作者英文名
单位中文名
单位英文名
基金中文名
基金英文名
杂志中文名
杂志英文名
栏目中文名
栏目英文名
DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
双极IC电浪涌损伤诊断技术
作者姓名:
王宏全
作者单位:
航天总公司半导体器件失效分析中心
摘 要:
以进口双极SN55189J电路和国产双极54S00电路为典型示例,系统介绍集成电路电浪涌损伤的诊断技术和分析技术,说明了如果IC电路出现电浪涌损伤现象,应从电路设计、制造、使用三方面全面地查找原因,采用先进技术和手段准确地诊断出电浪涌产生的根源、途径,从而采取有效措施彻底消除电浪涌的损伤。
关 键 词:
集成电路
电浪涌损伤
诊断技术
本文献已被
CNKI
维普
等数据库收录!
设为首页
|
免责声明
|
关于勤云
|
加入收藏
Copyright
©
北京勤云科技发展有限公司
京ICP备09084417号