采用SAC技术提高电子设备可靠性 |
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引用本文: | 吴为,徐敬华.采用SAC技术提高电子设备可靠性[J].上海航天,1998,15(1):16-20. |
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作者姓名: | 吴为 徐敬华 |
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作者单位: | 驻上海航天局中心军事代表室 |
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摘 要: | 给出了“筛选、分析与纠正”(ScreeningAnalysisandCorection)技术的要点、应用范畴和常规SAC应力的典型值。举例说明应用常规SAC技术提高导弹电子舱段可靠性的效果。分析认为,SAC技术是提高电子设备可靠性的新手段,它与可靠性增长试验有相似作用。应用表明,可靠性增长十分明显。
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关 键 词: | 电子设备 可靠性 可靠性增长 SAC技术 |
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