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| 宇航用NAND FLASH鉴定方法研究 | |
| 引用本文： | 韩晓东,朱恒静,张硕,张红旗.宇航用NAND FLASH鉴定方法研究[J].质量与可靠性,2014(6). |
| 作者姓名： | 韩晓东 朱恒静 张硕 张红旗 |
| 作者单位： | 中国空间技术研究院;首都航天机械公司; |
| 摘 要： | 结合航天应用需求,在研究NAND FLASH特点、失效机理、可靠性特性以及辐射特性的基础上,给出了宇航用NAND FLASH的鉴定方法,可以为后续宇航用NAND FLASH鉴定以及应用验证工作提供借鉴。 |
| 关 键 词： | 宇航 NAND FLASH 鉴定方法 应用验证 |
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