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一种新型精密微波测试通用支架
引用本文:浦邦俊.一种新型精密微波测试通用支架[J].宇航计测技术,1983(5).
作者姓名:浦邦俊
摘    要:一、概述精密微波测试通用支架是一种通用性大、又可以夹持非对称同轴元、器件以及几种波段波导元、器件的一种新型支架。随着微波技术的迅速发展,采用了各种新技术,相应对微波阻抗、功率、衰减、相位、低噪声等各种参数测量的精确度要求越来越高。为了满足高精确度测量要求,除了

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