| 数字系统的可靠性和可测试性设计 |
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| 引用本文： | 王泉,史维峰.数字系统的可靠性和可测试性设计[J].航空计算技术,2007,37(5):98-102. |
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| 作者姓名： | 王泉 史维峰 |
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| 作者单位： | 西北大学,信息科学与技术学院,陕西,西安,710127;西北大学,信息科学与技术学院,陕西,西安,710127 |
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| 摘 要： | 数字系统的可靠性和可测试性越来越引起人们的关注,并形成了大量的理论和技术,介绍了常用的可靠性设计技术,例如避错技术、容错技术、编码检错技术、故障自检测和自诊断技术以及失败安全设计技术同时还描述了可测试性设计的特定技术、通用技术、边界扫描技术以及内建自测试设计技术,设计人员可以选择适当的技术进行可靠性和可测试性设计,从而提高数字系统的可靠性.
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| 关 键 词： | 可靠性 可测试性容错技术 |
| 文章编号： | 1671-654X(2007)05-0098-05 |
| 修稿时间： | 2007年7月10日 |
Design of Reliability and Testability in Digital Systems |
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| WANG Quan,SHI Wei-feng.Design of Reliability and Testability in Digital Systems[J].Aeronautical Computer Technique,2007,37(5):98-102. |
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| Authors: | WANG Quan SHI Wei-feng |
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