首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

用于低温的锗薄膜温度计的特性
引用本文:M. Seki K. Sanokawa,陈鸿彦.用于低温的锗薄膜温度计的特性[J].宇航计测技术,1984(6).
作者姓名:M. Seki K. Sanokawa  陈鸿彦
摘    要:用来当作电阻温度计的锗薄膜业已在液氦温度下做过试验。锗在真空下被沉积在绝缘的基片上,然后把银沉积在锗薄膜上作为欧姆接触,籍助于选择适当的沉积条件,就能容易地制造出具有所需要的电阻和合适的灵敏度的温度计。这些温度计具有快速响应时间,并能用于测量快速变化的表面温度。

本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号