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面向功能的测试矢量生成技术的探讨
引用本文:郑菊言.面向功能的测试矢量生成技术的探讨[J].航空电子技术,1998(1):35-38.
作者姓名:郑菊言
作者单位:中国航空工业总公司第615研究所
摘    要:综述了数字系统测试生成技术中结构测试和功能测试两种方法的优缺点;用实例分析了门级固定故障模型存在的问题;展望了VLSI和ASIC面向功能测试生成方法的发展新趋势。

关 键 词:结构测试  功能测试  门级固定故障覆盖率  功能覆盖率
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
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