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| 航空电子器件超温使用分析及升额方法研究 | |
| 引用本文： | 梁媛,刘文媛,杨洋,卢晓青,蔡良续,孟玉慈.航空电子器件超温使用分析及升额方法研究[J].航空标准化与质量,2016(6):36-40. |
| 作者姓名： | 梁媛 刘文媛 杨洋 卢晓青 蔡良续 孟玉慈 |
| 作者单位： | 1. 中航工业综合技术研究所,北京,100028;2. 中国航空工业集团公司第六三一研究所,陕西西安,710119 |
| 摘 要： | 对航空电子器件超温使用的现状以及危害性进行分析,结合国际标准IEC/TR62240,提出航空电子器件升额的器件参数特性重估法、应力配平法、参数一致性评估法及更高装配级测试法,为器件超温使用评估提供理论依据. |
| 关 键 词： | 航空电子 超温使用 升额 |
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