X射线应力分析仪在单晶叶片取向测定中的应用

针对单晶叶片特点，应用Ｘ射线背射劳埃法在Ｘ射线应力分析仪上完成了对单晶叶片取向的测量，并提出了适合生产所需的、简便的衍射花样分析法和取向标定法。