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X射线应力分析仪在单晶叶片取向测定中的应用
引用本文:
龚慧峰.X射线应力分析仪在单晶叶片取向测定中的应用[J].航空制造技术,1995(3):24-27.
作者姓名:
龚慧峰
作者单位:
南方航空动力机械公司
摘 要:
针对单晶叶片特点,应用X射线背射劳埃法在X射线应力分析仪上完成了对单晶叶片取向的测量,并提出了适合生产所需的、简便的衍射花样分析法和取向标定法。
关 键 词:
X射线背射劳埃法,单晶叶片,衍射
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