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| 200N·m·s控制力矩陀螺用圆柱型导电环寿命试验 | |
| 引用本文： | 李刚,高莉,魏大忠,武登云.200N·m·s控制力矩陀螺用圆柱型导电环寿命试验[J].空间控制技术与应用,2012,38(2):49-52. |
| 作者姓名： | 李刚 高莉 魏大忠 武登云 |
| 作者单位： | 北京控制工程研究所,北京,100190 |
| 摘 要： | 导电环用于200N·m·s控制力矩陀螺高速转子电信号的传输,其使用寿命直接决定了200N·m·s控制力矩陀螺整机寿命,因此需要对200N·m·s控制力矩陀螺用导电环进行加速寿命试验.对试验目的、试验对象、加速因子、试验环境、试验系统组成、失效判据进行了详细描述,对导电环寿命试验期间的电噪声、摩擦力矩、绝缘性能等测试结果进行的分析表明,在进行了4×106转的寿命试验后,导电环的各项性能指标仍能够满足200N·m·s控制力矩陀螺的使用需求. |
| 关 键 词： | 控制力矩陀螺 导电环 寿命试验 |
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