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地热井中的光学测溫法
作者姓名:
L.Fiorina
顾涵铮
摘 要:
本文叙述以全光学装置为基础,利用双折射晶体的物理特性与温度之间关系的一种温度测量系统,要求系统测量地热井中最高达500℃的温度分布图,并具有优于0.1℃的分辨率,最大预期井深为3500米。本文也论述了光学纤维使用问题的技术解决办法,同时将叙述现场使用的试验样机及初步试验的结果。
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