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X射线衍射残余应力测试方法及应用
引用本文:于康,孙亚非,陈晓江.X射线衍射残余应力测试方法及应用[J].火箭推进,2015,41(2):102-107.
作者姓名:于康  孙亚非  陈晓江
作者单位:上海空间推进研究所,上海,201112
摘    要:介绍了X射线衍射仪测定材料残余应力的原理、测定参数的选择依据,并以7055铝合金为试验对象,进行了不同热处理机制的材料残余应力的测定。试验结果表明:X射线衍射仪测定7055铝合金的参数为管电压28.5 kV、管电流9 mA、扫描步距0.05。、计数时间20 s、4ψ角、铬靶(311)晶面、准直管直径φ4 mm;通过X射线衍射仪测得7055铝合金热处理之前的残余应力值为207MPa,为压应力,经A和B热处理机制处理之后的残余应力分别为62 MPa和33 MPa,均为压应力,两种热处理机制均能有效降低材料加工残余应力,且B热处理机制略优于A。X射线衍射方法测定材料残余应力为材料热处理机制提供了一定的理论依据。

关 键 词:X射线衍射  残余应力  7055铝合金  晶格

Residual stress measurement with X-ray diffraction
YU Kang,SUN Ya-fei,CHEN Xiao-jiang.Residual stress measurement with X-ray diffraction[J].Journal of Rocket Propulsion,2015,41(2):102-107.
Authors:YU Kang  SUN Ya-fei  CHEN Xiao-jiang
Institution:YU Kang;SUN Ya-fei;CHEN Xiao-jiang;Shanghai Institute of Space Propulsion;
Abstract:
Keywords:X-ray diffraction  residual stress  7055 aluminum alloy  crystal lattice
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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