同轴探针对称激励矩形波导模式谱图研究

通过理论分析证明，同轴探针对称激励矩形波导时，其模式谱图中不存在引起合成场结构不对称的高次模TE20及TE01模。应用分式线性变换检测法进行了对比测试，验证了理论分析结果的正确性。对聚四氟乙烯样品，在7—16GHz频带内测量其复介电常数均有较高的测量精度。实验表明，在一定条件下，标准三公分波导工作频率可高达16GHz，如果取波导宽窄边比r=3，工作频率可达19GHz。所得结果对于微波材料宽带测量具有实用价值。     

地空导弹维修性设计要求与指标分配

针对地空导弹的特点，论述了维修性设计的重要性，认为维修性是一种设计特性，必须对武器系统研制开始就要加以考虑，并贯穿于整个寿命周期中。提出了维修性设计要求，并讨论了维修性指标分配的问题。     

空间相机中与大口径透镜有关的结构设计分析

某空间相机镜头在光学设计时，因透过率、吸收率等原因，为了满足光学系统要求，经过各方面平衡后，其中有一片透镜比正常径厚比设计的偏薄些。在镜头总体结构设计时，单独对该镜片及与之相配的结构件进行了有限元分析和实验检测，发现不同的结构形式对镜片面形影响不同。为了解决这一问题，在实验中进行了探讨，以保证整个相机系统满足空间相机的实用要求。     

面天线检测数据处理方法的探讨

对面天线检测数据处理方法作了一些有益的探讨。从获取被测物的三维坐标后到获取真正有用的信息这一过程需要经过坐标转换和表面误差计算两个步骤 ,其中坐标转换是关键。在坐标转换方面 ,文中提出了曲面自由拟合、公共点转换和CAD面型转换三种方法 ,阐述了这些方法的数学模型 ,并且用实测数据进行了验证计算。理论分析和实际计算两方面显示 :CAD面型转换法既不需要天线的曲面方程 ,也不需要有已知的公共点 ,结果准确、可靠 ,是一种理想的方法 ;如果没有天线的CAD面型 ,但却存在公共点时 ,公共点转换法也是较理想的方法 ,其结果与给定的公共点误差有关 ;如果既没有天线的CAD面型又无公共点或公共点误差很大时 ,只能采用曲面自由拟合法 ,该法准确度最高 ,但容易使天线面型产生错位现象     

铝/ZN-1阻尼材料复合结构件的粘接技术研究

探讨了胶黏剂黏度、硬铝表面处理方式及硅烷偶联剂KH-560的使用方式等因素对硬铝板/ZN-1阻尼材料复合结构件的粘接性能的影响。研究表明：如果硬铝板表面采用砂纸打磨处理时，采用黏度较低的TC-1环氧树脂胶或者在黏度较高的J-22环氧树脂胶中添加2％的硅烷偶联剂KH-560可以获得优异的粘接效果；当硬铝板表面采用铬酸阳极化处理时，两种胶黏剂均能获得优异的粘接效果。     

扫描隧道显微镜对粘胶基碳纤维表面微观结构的研究

用扫描隧道显微镜（STM）对粘胶基碳纤维（RCF）表面的微观结构进行了研究，首次获得了原子级的RCF图像，对其原子间距作了精确地量化，并且尝试着将所得到的图像与高定向降解石墨（HOPG）相比较，以期对RCF的微观结构有更深入的了解，在原子级尺度上，发现了原子排列并不规则的石墨状结构，二维视图量化结果表明：相邻原子间距为0．142nm，最近六圆环中心的距离是0．253nm。     

表面粗糙度参数的计算方法

介绍了表面粗糙度参数的计算方法，并用ＱｕｉｃｋＢＡＳＩＣ语文编程实现。     

三维整体编织碳/酚醛复合材料烧蚀表面状态测试与分析

为了更好地研究三维整体纺织碳／酚醛复合材料的成型工艺对材料烧蚀性能的影响，选用不同纤维体积分数和不同编织结构的碳／酚碳复合材料试样，进行烧蚀试验，利用TalyScan150型表面粗糙度测试仪对试样烧蚀后的表面进行测试，并采用多种分析方法对测试结果进行分析。从分析结果可以看出三维四向结构的碳／酚醛复合材料随着纤维体积分数的增加，烧蚀性能变好，较低纤维体积分数（50％）的三维五向结构碳／酚醛复合材料具有较好的烧蚀性能。     

金属载体上线天线阻抗与辐射特性的矩量法研究

用线网格模拟金属载体表面，应用矩量法求出天线及载体网格上的电流分布，据此研究在该金属载体影响下的天线特性，在计算阻抗矩阵元素时，利用了非对称正弦偶极子辐射场的精确表达式，并采用了直接复数积分，简化了计算公式，本文给出了几种金属载体上线天线的阻抗与辐射特性的计算结果，它们与有关文献上的数据或实验结果一致，最后计算了一种舰船简单模型上两根线天线的远区辐射场及它们的自阻抗与互阻抗。     

高频宽范围阻抗测量的一种新方法

本文根据微波网络理论,提出了利用A参量求解高频阻抗的新方法,详细介绍了如何将该方法用于网络分析仪系统测量高频阻抗,并将其测试结果与美国惠普公司生产的专用高频阻抗分析仪HP4191A及该公司最新展出的频谱、网络、阻抗分析仪HP4195A的测试结果作了比较,实践证明,该方法与传统的S参量法相比,大大拓宽了阻抗测量范围,提高了测量精度(能自动地消除联接电缆的影响),且适用于被测件的同轴联接及非同轴联接。此方法对利用各种网络分析仪实现高阻测量具有普遍意义。