温度对高速平板边界层转捩雷诺数的影响

为了深入研究温度对高速边界层稳定性和转捩的影响,并对不同温度条件下的转捩结果进行关联,采用线性稳定性理论和eN方法,对不同壁温、总温条件下的高速平板边界层进行了稳定性分析和转捩预测。温度条件对转捩的影响体现在两方面,一方面会改变快、慢模态的分枝特性,由此改变扰动的线性增长路径;另一方面可以改变边界层本身的不稳定性,引起扰动增长幅值和转捩位置的变化。结果表明,壁温或总温的变化,会产生不同的模态分枝类型,且总温的增加对边界层起稳定作用。另外,发现对于相同马赫数,在不高于1000K的壁温条件下,扰动的增长与壁温存在一致性的变化规律,结合eN方法,获得了转捩雷诺数与壁温比和N值的函数关系式。利用该公式,可以对不同初始扰动幅值和壁温条件的边界层转捩进行预测和关联。     

互耦影响下天线电参数的测量

针对天线测量中的互耦影响，提出了一种计量方法；推导出一组用于互耦影响下测量天线增益、雷达散射截面等电参数的计算公式，定义了互耦因子。     

美国MTS公司应用软件在测试上的应用

介绍了用美国ＭＴＳ公司的平面应变断裂韬度测试软件，对ＴＣ４合金进行ＫＩＣ测试的过程及结果。     

关于综合模态屈曲理论的研究

本文讨论了综合模态屈曲理论。该理论同时考虑多个模态及其相互作用对结构屈曲的影响,能解释以往的屈曲理论所不能解释的屈曲现象,对实践有重要的指导意义。     

关于Nielsen数的注记

通过构造基本群的正规子群，得到有限复迭空间和自映射的提升。并定义了NL数，指出用NL数可以估算自映射的Nielsen数。     

纵向短周期模态试飞方法和选择

对几种纵向短周期模态试飞方法及其适用性进行了初步分析。结合实际飞行经验,提出了初步判断飞机短周期特性及选择试飞方法。     

可靠性评估的一种Bayes方法

介绍了用混合Gamma分布和混合Beta分布作共轭验前分布时,如何由Bayes方法对电子产品的可靠性进行评估。其中继承因子的引入克服了传统Bayes方法只考虑产品的继承性、相似性,而忽略新产品的创新性、不确定性的缺点。同时,通过举例与常用的经典法作比较,看出了这种方法的优越性及合理性。