HTPB固体推进剂老化性能检测新方法

引入了光致正电子湮灭分析方法 （PIPA,Photon Induced Positron Analysis）,对HTPB固体推进剂老化性能进行检测研究。介绍了PIPA的原理、PIPA试验平台的搭建以及PIPA的数值处理方法,并用511KeV能谱的FWHM值ε（半高宽,Full Width Half Maximum）表征HTPB固体推进剂老化引起的微观变化,所得结论与固体推进剂的常规测试一致,证明了PIPA用于固体推进剂老化性能无损检测的可行性。     

正电子素络合形成研究(Ⅱ)

本文讨论了不同测量条件对正电子素络合反应速度常数测定值的影响。实验结果表明,在稀溶液的条件下,使用我们特殊设计的盛装溶液的匣式容器能大大提高放射源的使用率并能完全避免放射性废水。     

正电子素的络合作用

本文介绍了正电子素及其络合作用。讨论了正电子素络合反应速度常数的测量方法。比较了几种线性自由能的表达式。     

基于PIPA技术的固体推进剂无损检测研究

针对国内现有无损探伤方法无法检测固体推进剂微观缺陷的情况,引入光致正电子湮灭分析方法,即PIPA(Photon Induced Positron Annihilation)。该方法利用加速器产生的高能光子引发的正电子与固体推进剂作用来检测其缺陷,能在固体推进剂宏观缺陷出现前检测出其微观结构的变化。介绍了PIPA原理,并通过试验讨论了温度、拉伸速率及推进剂的力学性能等因素对利用PIPA进行固体推进剂探伤结果的影响,所得结论与固体推进剂的常规测试具有一致性,证明了PIPA用于固体推进剂无损探伤的可行性。     

氰酸酯/环氧树脂的湿热老化机理

采用热失重、热机械分析、正电子淹没技术(PAL)对氰酸酯/环氧树脂体系湿热老化前后的性能进行了测试,对体系的吸水机理进行了研究。结果表明:该体系的吸水率为1.8%,湿热老化后对体系的热失重温度没有影响,体系的储存模量降低了95MPa,Tg降低了约7℃,损耗峰变宽并向低温方向移动。湿热老化后自由体积尺寸减小,自由体积浓度增大,体系中的水分起着增塑剂的作用,导致基体中形成更多的微裂纹。     

＂反宇宙＂里有反物质吗？

反宇宙和反物质存在吗？在国外相关机构对普通民众的调查中，约有53％的受访者持肯定意见，47％的受访者认为不存在所谓的反宇宙或反物质，支持者和反对者可谓旗鼓相当。以下刊出的是国外一个著名科普论坛上网友的讨论摘要．讨论者网名无特别意义。故未做翻译。     

透明导电氧化物薄膜的抗伽马辐照性能研究

利用射频磁控溅射法制备出具有良好光电性能的In₂O₃: W（IWO）薄膜,与购置的In₂O₃: Sn（ITO）薄膜一起,在伽马射线地面加速模拟试验设备中进行辐照试验。对辐照前后两种薄膜样品的微观结构、表面形貌、光电性能和元素价态进行对比分析,并用正电子湮没方法研究辐照前后的缺陷情况。结果表明,伽马射线辐照可引起ITO及IWO薄膜样品中氧空位缺陷的少量增加,且缺陷主要产生于薄膜表层及薄膜与基底界面结合处。高能伽马光子作用于透明导电氧化物薄膜,主要通过破坏其内部结合能较低的化学键,并实现薄膜系统中元素之间的选择性重组。ITO与IWO具有良好的抗伽马辐照性能,IWO相比ITO更适合于抗伽马辐照相关应用。