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1.
面向单粒子效应的航天嵌入式软件软防护技术研究
郭向英
赵雷
沈沛
《质量与可靠性》
2013,(1):54-58
单粒子效应是影响航天器可靠性和在轨寿命的重要因素。单粒子效应引发的可恢复性错误称为软错误,会导致软件运行出错。本文针对单粒子效应引发的软错误,对航天嵌入式软件中采用的软防护技术,按照控制流防护和数据流防护进行了分类分析和总结。
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